Dòng Nội dung
1
Nghiên cứu phương pháp khảo sát dữ liệu chùm tia của máy X quang soi chiếu : Khóa luận tốt nghiệp ngành Vật lý y khoa / Bùi Hoàng Hải; Đặng Thanh Lương, Phạm Như Tuyền hướng dẫn
Tp. Hồ Chí Minh : Trường Đại học Nguyễn Tất Thành, 2024
34 tr. : hình ảnh, sơ đồ ; 29 cm.
Ký hiệu phân loại (DDC): 535.5
Khảo sát dữ liệu (beam profile) tại các độ sâu khác nhau để mô tả đặc trưng phân bố liều tia X trong mặt phẳng hai chiều, cho phép xác định liều bức xạ tại các điểm ngoài trục trung tâm và bên ngoài trường chiếu cho phổ tia X sử dụng trong các thiết bị soi chiếu.
 Số bản sách: (1) Tài liệu số: (1)